SEM景深大、分辨率高，放大倍率可达到数十万倍以上，可用来观察样品表面及剖面微结构。如在设备上加装能量分散X光谱仪(Energy Dispersive Spectrometer， 简称EDS)时，可对样品表面同时进行微区之材料分析，包括定性、半定量之成分分析以及特定区域之Point、Line Scan、Mapping分析。
半导体芯片剖面观察
苏州瑞普邦一家电子元器件混合型分销商，主营各类主动被动电子元器件，包括普通陶瓷电容、薄膜电容、车规电容、贴片电感、功率电感、传感器、 MOS管、二三极管和IC等
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